儀器儀表類
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貨號: #M Plan Apo NIR B 20x
庫存: 100件
相差校正范圍：近紫外區（355nm）到近紅外區（1800nm），能夠在較寬的光譜范圍內實現較好的成像效果，適用于需要在紫外到紅外波段進行觀測或測量的場景。
焦距：200mm。
成像倍率：1×。
成像視場：直徑為 24mm。
入射透鏡直徑：22.0mm。
外觀尺寸：直徑 35mm× 長度 32.0mm。
質量：30g。
寬像差校正范圍：其像差校正覆蓋近紫外區 355nm 至近紅外區 1064nm。相比 MT-1、MT-2 等僅校正可見光區（435.8 至 656.3nm）像差的常規型號，它可用于需紫外或紅外成像的特殊光學檢測、測量任務。
適配無限遠校正光學系統：依據三豐的產品說明，MT-L 鏡片適配無限遠校正光學系統的物鏡，能精準將無限遠平行光會聚成像，配合對應物鏡確保成像精度，常用于精密光學測量場景。
特定的成像視場：成像視場直徑為 24mm，和 MT-40 一致，可匹配長工作距離物鏡對應視場要求，當物鏡按指定尺寸配置時，可完整接收并處理對應范圍的圖像信息，滿足特定視場精密觀測或測量的需求。
尺寸緊湊輕便：鏡片直徑 35mm，長度 32.0mm，質量僅 30g。小尺寸與輕質量的特性，便于集成在光學鏡筒內，并有助于減少整套光學測量設備的體積及重量。
